電気電子工学科　村上秀樹

[1] H. Murakami, S. Hamada, T. Ono, K. Hashimoto, Akio Ohta, H. Hanafusa, S. Higashi, and S. Miyazaki, ECS Trans. 64(6), pp. 423-429 (2014).
[2] H. Murakami, T. Fujioka, A. Ohta, T. Bando, S. Higashi, and S. Miyazaki, ECS Trans., 33 (3), pp. 253-262 (2010).
[3] H. Murakmai, The first International Workshop on Advanced Nanomaterials for Future Electron Devices 2015 (IWAN2015) Aichi, Japan （2015） (Invited).
[4] H. Murakami, Y. Ono, A. Ohta, S. Higashi and S. Miyazaki, Int. Union of Mat. Res. Soc.-Int. Conf. on Electronic Materials (IUMRS-ICEM2012), B-1-O28-009(2012)

　近年，高性能コンピュータや高精細ディスプレイなどのIT関連電子機器の進化は目ざましく，また，さらなる進化が期待されています．私たちは，次世代電子デバイスのために必要不可欠な，新材料，新機能を有する電子素子の開発に必要不可欠な，材料および材料物性評価に関する研究を行っています．
　さらに，新規電子デバイスの応用として，植物その場観察システムの開発も行っています．良質な農作物の安定供給を，経済的持続性を担保しつつ実現するための技術として，科学的データに基づく栽培管理に注目し，作物形状３次元スキャナや各種測定機器および情報収集・連携システムを開発を目指しています．

半導体デバイス，半導体評価技術

半導体デバイスの開発とその応用